BS 6121-3-1990 机制电缆密封套.第3部分:专用耐腐蚀密封套规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 01:31:28 浏览:9481
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【英文标准名称】:Mechanicalcableglands-Specificationforspecialcorrosionresistantglands
【原文标准名称】:机制电缆密封套.第3部分:专用耐腐蚀密封套规范
【标准号】:BS6121-3-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-11-30
【实施或试行日期】:1990-11-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K13
【国际标准分类号】:21_140
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part9:Insulated-gatebipolartransistors(IGBTs)
【原文标准名称】:半导体装置.分立器件.第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
【标准号】:IEC60747-9-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验收检验;双极;双极晶体管;电路;元件;连接件;测量用连接件;定义;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;性能;合格试验;额定值;整流二极管;基准方法;可靠度;常规检验试验;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;晶体管;警告符号
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Bipolar;Bipolartransistors;Circuits;Components;Connections;Connectionsformeasurement;Definition;Definitions;Dimensioning;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Properties;Qualificationtests;Ratings;Rectifierdiodes;Referencemethods;Reliability;Routinechecktests;Semiconductordevices;Semiconductors;Signs;Specification(approval);Symbols;Testing;Transistors;Warningsymbols
【摘要】:ThispartofIEC60747givesproductspecificstandardsforterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristics,verificationofratingsandmethodsofmeasurementforinsulated—gatebipolartransistors(IGBTs)．
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:120P.;A4
【正文语种】:
